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粗糙度仪    
 
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪
Perthometer M2便携式粗糙度测量仪与Perthometer M1对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求,还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。更多的,MarSurf M2 提供了内置的存储器,可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测,垂直显示比例的调整
 
   详细介绍:

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪

 

概述

此仪器的操作是基于久经验证的强大功能,使得仪器的设置如测量条件,系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2让您得到最到的测量功能和高效的测量灵活性。

Perthometer M1对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求,还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。

更多的,MarSurf M2 提供了内置的存储器,可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测,垂直显示比例的调整,用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置。

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪特点

·测量范围高达150µm

·测量单位µm/µin 可选

·评定标准:DIN/ISO/JIS CNOMO (Motif) 可选

·依照DINENISO4288/ASMEB461标准的测量长度选择:1.75 mm5.6 mm17.5 mm;依照ENISO12085标准:1mm2mm4mm8mm12mm16mm

·截止波长可从 1 5自由选择

·完全依照标准的测量波长及测量长度自动选择

·依照DINENISO11562标准的相位修正轮廓滤波器

·可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm(0,01 in/0,032 in/0,100 in)

·可选择短截止波长

·依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数:Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc

·依照JIS标准的评定参数:Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif

·标准的评定参数:R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量)

·可显示公差及输出测量报告中

·显示比例可自动或手动选择

·可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告

·测量报告可输出测量日期及时间

·内置存储卡可存储200组测量数据

·动态传感器校准

·锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪主要技术指标

相对误差: ≤±5%

测量原理:指针电感触方式

测量范围:100 um

测量速度:0.5 mm/s

轮廓分辨率:12 nm

滤波:高斯(自动确定

取样长度:0.25, 0.8,2.5 mm

扫描长度按DIN/ISO1.75,  5.6,17.5 mm

取样长度数目: 1 5 , 可选择

参数:DIN/ISORa, Rz, Rmax, Rq,Rp,Rt,R3z,Ry,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Rr2,Pc,Mk ,Sm,S,tp.

          JISRa, Rz

垂直方向标定:自动

水平方向标定:根据取样长度

记录:R-轮廓,数据输出

打印机:自动打印 / 内置式打印

纸宽:57.5 mm

计量单位:um / uin,可选择

显示:LCD 显示

语言:中文操作界面,10种欧洲语言和其它2种亚洲语言

带有RS232串行口,可直接与pc相连

公差和测量数据显示跟踪,输出测量日期和时间

集成存储器能够最多存储200个测量结果

可在PCMCIA内存卡上存储无数个测量结果,轮廓和测量程序

电源:允许输入电压从90V 264V,根据电源箱

可充电池:NiCd 电池,可测量1000

操作温度:+ 5 deg to + 40 deg

重量:约 900 g

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪应用

轴类,外壳,大体积的机械机架

汽车业应用,上使用,实现固定架构中任何部件的快速线上实时测量

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪测量工作站组件

·M 系列由坚固的专用测量工具箱保护,里面包含:

·M2评定单元

·PFM 驱动器

·NHT 6-100 传感器

·通用 90-264 V电源适配器

 

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